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Routine static parameter testing
设备名称 |
设备图 |
可承担试验项目 |
依据标准 |
JUNO测试系统 |
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半导体器件常规静态参数参数 |
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DBC-091晶闸管关断时间测试仪 |
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单、双向可控硅的关断时间tq测试 |
GB/T 15291-2015 9.1.10 |
DBC-105浪涌及峰值电压测试台 |
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单、双向可控硅的浪涌ITSM测试 |
GB/T 15291-2015 9.3.3 |
DBC-082通态电流临界上升率试验台 |
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单、双向可控硅的dI/dt测试 |
GB/T 15291-2015 9.3.5 |
DATA-206型晶闸管dv/dt测试仪 |
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单、双向可控硅的dV/dt测试 |
GB/T 15291-2015 9.1.11 |
可控硅门极触发特性测试仪 |
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单、双向可控硅的IGT、VGT测试 |
GB/T 15291-2015 9.1.7 |
QT2晶体管半导体管特性图示仪 |
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静态电参数 |
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EFT电快速脉冲群测试 |
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EFT电快速脉冲群测试 |
JESD51-3，JESD51-4 |
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