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Reliability Test


设备名称
设备图
可承担试验项目
依据标准
超声波扫描显微镜
韦达半导体
超声分层扫描 SAT
/
电热鼓风干燥箱
韦达半导体
HTST
GB/T 2423.2
JESD22-A103
高低温环境试验箱
韦达半导体
HTST、 LTSL
JESD22-A103E JESD22-A119A
THT稳态湿热试验箱
韦达半导体
THT
GB/T2423.3-2006,
JESD22-A101D
PCT高压蒸煮实验箱
韦达半导体
PCT
JESD22-A102
uHAST不加偏压高加速老化试验实验箱
韦达半导体
THT、uHAST
JESD22-A110
JESD22-A118 GB/T2423.3
JESD22-A101
TC高低温冲击试验箱
韦达半导体
TC、HTST、 LTSL
JESD22-A104
GB/T 2423.22
HTRB高温反偏试验箱
韦达半导体
BURN-IN、HTRB、HTST、HTGB
GB/T 4587
JESD22-A108
H3TRB高温高湿反偏试验箱
韦达半导体
BURN-IN、HTRB、H3TRB、THT 、HTST、HTGB
GB/T2423.3-2006
JESD22-A101D
回流焊 Reflow
韦达半导体
Reflow
/
盐雾试验系统
韦达半导体
盐雾试验系统
GB/T 2423.17